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网络研讨会|第五届无损检测技术进展与应用网络会议
行业:Steven
产品: N60 紧凑型台式显微 CT, N70 通用型台式显微 CT, N80 高分辨台式显微 CT, N90 高分辨纳米 CT, NXL 台式大仓显微 CT
关键词:复纳科技
日期:2026-11-11
 

2026 年 9 月 22 日,仪器信息网将举办"第五届无损检测技术进展与应用网络研讨会"。会议聚焦 X 射线 CT、半导体检测、新能源电池检测、智能超声、AI 赋能无损检测等前沿技术与应用热点,邀请业界知名无损检测专家、仪器技术专家、应用专家等线上分享精彩报告。

近年来,半导体先进制程、新能源电池、航空航天等高端制造业迅猛发展,对无损检测技术提出了更高精度、更高效率、更高自动化的要求。X 射线 CT 从离线走向在线、从定性走向计量,超声检测向智能化与阵列化演进,具身智能与机器人技术正在打开无损检测的新场景。

基于此,第五届无损检测技术进展与应用网络研讨会将聚焦行业核心技术痛点,设置三大专场:专场一:X 射线 CT 技术与应用(上)——半导体与先进封装检测;专场二:X 射线 CT 技术与应用(下)——新能源、汽车与工业应用;专场三:无损检测新技术与跨界融合。

复纳科学仪器(上海)有限公司应邀参加此会议,显微 CT 产品经理马黎明将带来主题报告《Neoscan 显微 CT 在无损检测领域的应用》,报告时间为 9 月 22 日 14:30-15:00,欢迎报名预约观看。

01 报告时间

2026 年 9 月 22 日 14:30-15:00

02 报告主题

Neoscan 显微 CT 在无损检测领域的应用

报告人 PROFILE

马黎明 复纳科技显微 CT 产品经理

复纳科技显微 CT 事业部产品经理,高级工程师。长期专注于显微 CT 的技术研究、应用开发和市场推广工作。在 JoVE 期刊发表实验方法论文,拥有国家发明专利和实用新型专利各一项。

03 报告内容

Neoscan 高分辨显微 CT 以微米至纳米级 X 射线无损成像技术,不损伤样品即可实现内部微观结构、缺陷与尺寸参数的三维可视化精准量化,突破传统检测破坏样本、仅见二维的局限。

适配多尺度样品,成像清晰、伪影少、精度稳定,广泛服务于工业制造、新能源、生物医药、农业科研等领域的缺陷识别与微观分析,为质控、研发和工艺改进提供数据支撑。

包括清华大学、北京农学院、天津工业大学、深圳铂科新材料股份有限公司、英国利兹大学、俄罗斯科学院植物生理研究所、芬兰东南应用科技大学、柏林夏里特医学院、卢布尔雅那大学、泰国玛希隆大学(Mahidol University)、卡塔尔大学等在内的知名高校、研究所和企业。

小鼠骨骼

臼齿

大米种子

花药

咖啡螟浆果甲虫

日本星型有孔虫砂

3D 打印

药片

碳纤维复合材料

页岩

锂电池

高级 GPU

15 寸笔记本电脑

汽车水泵壳体铝压铸件

本报告将全面介绍 Neoscan 显微 CT 综合解决方案与技术优势,包括高分辨、快速扫描能力等,并重点结合多个典型案例展示其在无损检测实际应用中的价值。

获取更多 Neoscan 高分辨显微 CT 的产品详情和应用案例,欢迎扫描下方二维码填写信息!

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Neoscan 显微CT 产品系列

NXL 大仓台式显微 CT

N90 高分辨纳米 CT

N80 高分辨台式显微 CT

N70 快速型显微 CT

N60 紧凑型显微 CT

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